零死時(shí)間（ZDT） - 無損計(jì)數(shù)校正
計(jì)數(shù)率變化太快？需要計(jì)算不確定性？ZDT是您的！

ZDT是傳統(tǒng)活時(shí)間擴(kuò)展的替代方案，可以校正死時(shí)間。它尤其適用于計(jì)數(shù)率在采集期間顯著衰減的應(yīng)用（如中子活化分析），或者在長時(shí)間采集過程中活度激增的應(yīng)用（如堆棧監(jiān)測(cè)中的熱粒子情況）。

活時(shí)間時(shí)鐘可延長電子設(shè)備的計(jì)數(shù)時(shí)間，以補(bǔ)償死時(shí)間。無損計(jì)數(shù)方法，如我們的ZDT，在系統(tǒng)處理其他脈沖時(shí)校正那些計(jì)數(shù)“丟失”譜中的實(shí)際計(jì)數(shù)數(shù)量。ZDT方法使用ORTEC高度精確的Gedcke-Hale時(shí)鐘來確定在電子設(shè)備“死”時(shí)間內(nèi)應(yīng)添加多少事件。

在ZDT模式下，DSPEC jr 2.0自動(dòng)存儲(chǔ)校正后的譜和方差譜。這兩種譜也可存儲(chǔ)在ORTEC SPC格式的文件結(jié)構(gòu)中，以便在將來進(jìn)行比較。用戶可以通過GammaVision和MAESTRO中的簡單菜單命令輕松切換校正和未校正的譜。

ORTEC ZDT模式包括不確定性的估計(jì)算法，進(jìn)一步完善了我們的ZDT方法。其他“無損計(jì)數(shù)”方法無法計(jì)算與計(jì)數(shù)（被添加到譜的這部分）相關(guān)的不確定性，而DSPEC jr 2.0中的ZDT模式可以同時(shí)生成校正后的譜和收集數(shù)據(jù)時(shí)的不確定性。有關(guān)ZDT的更多信息，請(qǐng)參見應(yīng)用說明56，“使用ORTEC的創(chuàng)新零死時(shí)間技術(shù)進(jìn)行不確定性分析的無損計(jì)數(shù)”。

低頻噪聲抑制器數(shù)字濾波器可提高機(jī)械冷卻系統(tǒng)的分辨率！
LFR旨在消除高純鍺探測(cè)器輸出信號(hào)中的顫噪噪聲。您期待什么樣的結(jié)果？如果您機(jī)械冷卻系統(tǒng)的分辨率較低，LFR可以顯著提高其分辨率。

彈道虧損校正
使用ORTEC的數(shù)字信號(hào)處理DSPEC產(chǎn)品系列，無需擔(dān)心彈道虧損問題。在較大的HPGe探測(cè)器中，有時(shí)會(huì)出現(xiàn)所謂的彈道虧損效應(yīng)。這通常會(huì)導(dǎo)致較差的分辨率，對(duì)于高能量峰值尤為嚴(yán)重。在模擬系統(tǒng)中，彈道虧損通常使用門控積分放大器或通過分辨率增強(qiáng)器模塊進(jìn)行校正。然而，在數(shù)字系統(tǒng)中，只需對(duì)數(shù)字濾波器的平頂寬度進(jìn)行簡單調(diào)整即可。

使用DSPEC jr 2.0中的InSight模式，操作員可以調(diào)整平頂寬度（和傾斜度），并立即看到信號(hào)處理的效果。在大多數(shù)情況下，對(duì)于非常大的探測(cè)器（例如本例中使用的效率為207％的探測(cè)器！），0.8 μs的平頂設(shè)置足以恢復(fù)出色的分辨率。

簡單的整形參數(shù)設(shè)置
DSPEC jr 2.0可幫助您保持對(duì)數(shù)字系統(tǒng)的控制。上升時(shí)間和平頂寬度調(diào)整功能使您能夠根據(jù)應(yīng)用“微調(diào)”譜儀的性能。優(yōu)化分辨率和處理量從未如此簡單！

在DSPEC jr 2.0中，除了傾斜參數(shù)外，還有112個(gè)上升時(shí)間（從0.8到23 μs，以0.2為增量）和22個(gè)平頂寬度（從0.3到2.4 μs，以0.1為增量），可為您提供超過2,000種參數(shù)組合。

盡請(qǐng)放心。.. 我們?nèi)匀辉诳刂泼姘逯刑峁┳詣?dòng)“優(yōu)化”功能，以便您選擇最合適的參數(shù)！這意味著只需輕點(diǎn)鼠標(biāo)即可改善探測(cè)器的分辨率和處理量。

SMART-1™支持質(zhì)量數(shù)據(jù)
ORTEC的SMART-1探測(cè)器非常智能。它們監(jiān)測(cè)和存儲(chǔ)探測(cè)器的“健康狀態(tài)”（探測(cè)器溫度、前置放大器功率、偏壓超量程、偏壓開/關(guān)狀態(tài)）。DSPEC jr 2.0的單次檢查將驗(yàn)證探測(cè)器是否準(zhǔn)備就緒以及準(zhǔn)備好進(jìn)行采集。在采集過程中，SMART-1探測(cè)器持續(xù)監(jiān)測(cè)“健康狀態(tài)”（SOH），以確保采集數(shù)據(jù)的完整性。在采集結(jié)束時(shí)，將快速檢查SMART-1探測(cè)器中的SOH標(biāo)記，然后顯示測(cè)量期間是否有任何參數(shù)偏離規(guī)范。這對(duì)于需要進(jìn)行長時(shí)間計(jì)數(shù)的環(huán)境樣品和需要數(shù)據(jù)完整性的監(jiān)管樣品來說至關(guān)重要。

另一大優(yōu)勢(shì)是SMART-1探測(cè)器在出廠時(shí)已預(yù)設(shè)推薦的偏壓值。您不再需要查看手冊(cè)或探測(cè)器上的標(biāo)簽以設(shè)置正確的偏壓值。只要打開DSPEC jr 2.0，SMART-1探測(cè)器會(huì)自動(dòng)檢測(cè)探測(cè)器溫度，確定正確的高壓偏壓并將其打開。

與探測(cè)器的便捷單根電纜連接
DSPEC jr 2.0使用的ORTEC DIM（探測(cè)器接口模塊），僅用一根電纜連接DSPEC jr 2.0和探測(cè)器。DIM提供接近探測(cè)器的偏壓，以便在電纜中僅承載信號(hào)和低壓電源。由于長電纜承載高電壓可能造成的危險(xiǎn)現(xiàn)已被消除。

顯示重要參數(shù)
DSPEC jr 2.0在前面板LCD顯示屏上顯示重要的系統(tǒng)參數(shù)。DSPEC jr 2.0將顯示儀器ID、名稱、序列號(hào)、預(yù)設(shè)計(jì)數(shù)條件、當(dāng)前活時(shí)間和實(shí)時(shí)間、死時(shí)間百分比、輸入計(jì)數(shù)率、HV狀態(tài)和值，以及SMART-1探測(cè)器的序列號(hào)。

小巧
DSPEC jr 2.0的占地面積與臺(tái)歷相當(dāng)，可以直接放在桌面上。輕巧又結(jié)實(shí)的多個(gè)DSPEC jr 2.0可以疊放在一起，它們的外殼互鎖，不用擔(dān)心滑動(dòng)或傾斜。

與現(xiàn)有的MCB隨意組合
ORTEC CONNECTIONS軟件支持連接到任何計(jì)算機(jī)上的任何組合和數(shù)量的USB設(shè)備。例如，兩個(gè)digiDART可以使用USB集線器與兩個(gè)DSPEC jr 2.0一起連接到同一臺(tái)PC。任何數(shù)量的其他ORTEC MCB都可以通過網(wǎng)絡(luò)、打印機(jī)端口、RS-232或雙端口內(nèi)存連接到同一系統(tǒng)。

添加換樣器
如果您準(zhǔn)備使用集成的換樣器自動(dòng)化您的流程，DSPEC jr 2.0由于具有內(nèi)置的換樣器接口和控件可滿足您這一需求。

...還是像往常一樣容易設(shè)置！
DSPEC儀器易于設(shè)置和使用。采用智能MCA控制，無需手動(dòng)配置，甚至不需要所謂的向?qū)АＤ恍璋惭b軟件（如GammaVision或MAESTRO），軟件“知道”所需顯示的控制面板。面板的表格式設(shè)計(jì)對(duì)DSPEC jr 2.0上的可用控件和功能進(jìn)行了邏輯分組。

DSPEC jr 2.0包括ORTEC的數(shù)字自動(dòng)極零電路、數(shù)字自動(dòng)基線恢復(fù)和優(yōu)化功能，可為當(dāng)前連接到DSPEC jr 2.0的探測(cè)器選擇平頂/傾斜設(shè)置，從而使譜測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)置和優(yōu)化變得異常簡單。

當(dāng)然，我們產(chǎn)品創(chuàng)新性的一個(gè)特點(diǎn)是InSight™，即內(nèi)置虛擬數(shù)字示波器。使用InSight功能，您可以輕松查看更改平頂寬度、基線恢復(fù)設(shè)置的效果或檢查彈道虧損校正的效果（請(qǐng)參閱側(cè)欄）。不再需要一個(gè)沉重和麻煩的外部示波器。不需要特殊的軟件。只需打開控制面板并打開InSight模式即可。